Rasterelektronenmikroskope – Ausschreibungen (CPV 38511100)

Was umfasst der CPV-Code 38511100?

Der CPV-Code 38511100 – Rasterelektronenmikroskope klassifiziert öffentliche Aufträge für die Beschaffung von Rasterelektronenmikroskopen (REM). Diese Hochleistungsgeräte erzeugen dreidimensionale Oberflächenbilder von Proben durch einen fokussierten Elektronenstrahl und liefern dabei Auflösungen im Nanometerbereich, die mit optischen Mikroskopen nicht erreichbar sind. Einsatzgebiete in der öffentlichen Beschaffung sind Materialwissenschaft, Halbleiterforschung, Biologie, Medizin, Forensik und industrielle Qualitätskontrolle in öffentlichen Labors und Forschungseinrichtungen.

CPV 38511100 gehört zur Unterkategorie der Gruppe 385 – Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen in der Abteilung 38 – Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser). Weiterführende Informationen zum Klassifikationssystem bietet die Europäische Kommission (SIMAP) sowie die Verordnung (EG) Nr. 213/2008.

Ausschreibungen mit CPV 38511100 in Zahlen

Die folgenden Kennzahlen beruhen auf öffentlichen Vergabedaten aus Deutschland (2021–2026).

Entwicklung der Ausschreibungszahlen (jährlich):

Das höchste Ausschreibungsvolumen wurde 2022 erreicht, was auf verstärkte Forschungsinvestitionen in diesem Jahr hindeutet.

Regionale Verteilung (nach Bundesland, Top 5):

Zu den aktivsten öffentlichen Auftraggebern zählen das Forschungszentrum Jülich GmbH (9 Ausschreibungen), die Fraunhofer-Gesellschaft – Einkauf B12 (8), die Physikalisch-Technische Bundesanstalt (3), die Philipps-Universität Marburg (3) sowie die Justus-Liebig-Universität Gießen (3).

Typische Untergruppen und Leistungen

CPV 38511100 ist eine Unterkategorie ohne weitere Untergliederung. Typische Beschaffungsgegenstände unter diesem Code umfassen:

• Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope (FE-SEM) für Hochauflösungsanwendungen
• Konventionelle Rasterelektronenmikroskope (W-SEM) für Routineanalytik
• Umwelt-Rasterelektronenmikroskope (ESEM/VPSEM) für feuchte Proben
• REM-Systeme mit integrierter energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX/EDS)
• Dualstrahl-Systeme (FIB-SEM) für Querschnittsanalysen und Probenpräparation
• Zubehör, Detektoren und Probenkammern für bestehende REM-Systeme

Beispiele für Ausschreibungen mit CPV 38511100

• Hochauflösendes Feldemissions-REM für Forschungszentrum: Das Forschungszentrum Jülich schreibt ein FE-SEM mit EDX-Detektor und kryogenem Probenhalter für die Nanomaterialanalytik aus, einschließlich Schulung und Wartungsvertrag.
• Rasterelektronenmikroskop für Materialprüfstelle: Eine Bundesbehörde wie die Physikalisch-Technische Bundesanstalt beschafft ein REM für standardisierte Messtechnik und Kalibrieraufgaben.
• Universitäres REM für Lehre und Forschung: Eine Universität vergibt ein kompaktes REM-System für den Einsatz in der materialwissenschaftlichen Ausbildung und angewandten Forschungsprojekten.

Aktuelle Ausschreibungen mit CPV 38511100 sind über TED (Tenders Electronic Daily) einsehbar.

Für wen ist CPV 38511100 relevant?

Öffentliche Auftraggeber

Typische Auftraggeber sind Großforschungseinrichtungen (Forschungszentrum Jülich, Fraunhofer-Gesellschaft), Universitäten, staatliche Prüfinstitute wie die Physikalisch-Technische Bundesanstalt sowie Helmholtz- und Max-Planck-Institute. Die hohe Nachfrage in Bayern und Nordrhein-Westfalen spiegelt die Dichte an Forschungseinrichtungen und technischen Universitäten in diesen Bundesländern wider.

Unternehmen und Bieter

Typische Bieter sind die großen Elektronenmikroskop-Hersteller und deren autorisierte Vertriebspartner (z. B. Zeiss, Thermo Fisher Scientific/FEI, Hitachi). Da der Markt hochspezialisiert ist, treten häufig Direktangebote der Hersteller auf. Gefordert werden technische Leistungsnachweise (Auflösungsspezifikationen, Detektorkonfigurationen), Referenzinstallationen sowie umfassende Service- und Wartungskonzepte. Informationen zu Eignungs- und Vergabevorschriften bietet das Bundesministerium für Wirtschaft und Energie (BMWE).

Wie hilft Bond bei CPV 38511100?

Tender Match – Ausschreibungen automatisch finden (CPV 38511100)

Mit tender.match erhalten Hersteller und Händler von Rasterelektronenmikroskopen automatisch alle relevanten Ausschreibungen mit CPV 38511100 direkt in ihr Dashboard. BOND indexiert Ausschreibungen aus über 1.000 Vergabeportalen in der EU – von TED über nationale Plattformen bis hin zu regionalen Vergabestellen. Passende Ausschreibungen werden nach Region, technischen Anforderungsprofilen und Einrichtungstyp gefiltert.

Company Match – Die richtigen Partner und Zulieferer finden (CPV 38511100)

Für Anbieter, die Systemintegrationspartner, Speziallaborausstatter oder lokale Servicepartner für Wartungsverträge suchen, bietet company.match direkten Zugang zu qualifizierten Firmen aus einer EU-weiten Datenbank mit über 28 Mio. Unternehmen.

Häufige Fragen zu CPV 38511100

Was bedeutet der CPV-Code 38511100?

Der CPV-Code 38511100 steht für Rasterelektronenmikroskope – hochauflösende Analysegeräte, die mit fokussierten Elektronenstrahlen Oberflächenbilder im Nanometerbereich erzeugen. Er ist Teil der CPV-Abteilung 38 (Laborgeräte und Präzisionsgeräte) und wird für die Beschaffung von REM-Systemen durch öffentliche Forschungs- und Wissenschaftseinrichtungen verwendet.

Welche Vergabevorschriften gelten für Ausschreibungen mit CPV 38511100?

Als Lieferleistung gelten unterhalb der EU-Schwellenwerte in Deutschland die Regelungen der UVgO. Oberhalb des EU-Schwellenwerts für Liefer- und Dienstleistungsaufträge ist die VgV maßgeblich. Aufgrund der hohen Gerätewerte (häufig weit über 100.000 €) finden viele REM-Beschaffungen als europaweite Vergaben statt.

Wie finde ich Ausschreibungen mit CPV 38511100?

Ausschreibungen mit CPV 38511100 werden auf TED für europaweite Verfahren veröffentlicht. BOND aggregiert automatisch alle relevanten Ausschreibungen aus über 1.000 Portalen und filtert sie nach Unternehmensprofil und Region.

Welche Unterschiede bestehen zwischen REM-Varianten bei öffentlichen Ausschreibungen?

Öffentliche Auftraggeber unterscheiden bei Ausschreibungen typischerweise nach Auflösungsklasse (Standard-SEM vs. FE-SEM), verfügbaren Analysemethoden (EDX, EBSD) und Betriebsumgebung (Hochvakuum vs. Umgebungsdruck für ESEM). Diese technischen Anforderungen werden in den Leistungsbeschreibungen der Ausschreibungen definiert und variieren je nach Forschungszweck der ausschreibenden Einrichtung.