Öffentliche Ausschreibung
Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) und Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
Institut für Oberflächen- und Schichttechnik GmbH
Details
- Abgabefrist
- 17. Aug. 2026
- Land
- Geschätzter Auftragswert
- Auf Anfrage
- CPV-Codes
- 38000000-5
Dokumente
- Leistungsverzeichnis
- Preisblatt
- Bewerbungsbedingungen
- Vertragsbedingungen
- Anlagen und Pläne
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