Elektronenmikroskope – Ausschreibungen (CPV 38511000)
Wertangaben auf Basis von 719 Ausschreibungen mit veröffentlichtem Auftragswert.
Häufigste Vergabestellen
Ausschreibungen
- Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen ProbenETH Zürich - Abt. Procurement & Export Servicesauf Anfragegeschlossen 11.11.2026
- Fourniture d’un microscope électronique à balayage (MEB) de faible encombrement pour le compte du DEC/SAEC du CEA Cadarache.AO / CEA / CEA / CADARACHE - CENTRE DES BOUCHES DU RHÔNEauf Anfragegeschlossen 12.11.2026
- Lieferung, Aufstellung und Inbetriebnahme eines EDX und EBSD DetektorsMax-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V., Max-Planck-Institut für Plasmaphysikauf Anfragegeschlossen 12.11.2026
- Acquisition et maintenance d’une plateforme d’immunofluorescence multiplexe automatiséeINSERM - Délégation Régionale Paris-IDF Centre-Estauf Anfragegeschlossen 13.11.2026
- The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion SourceDanmarks Tekniske Universitet - DTUauf AnfrageFrist 16.11.2026
- The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion SourceDanmarks Tekniske Universitet - DTUauf AnfrageFrist 16.11.2026
- Lieferung, Aufstellung und Inbetriebnahme eines in-situ Nanoindenter für REMMax-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V., Max-Planck-Institut für Plasmaphysikauf AnfrageFrist 16.11.2026
- Suministro, instalación y puesta en funcionamiento de un sistema de microscopía electrónica y litografía por haz de electrones para microfabricación y fotónica integradaRectorado de la Universitat Politècnica de València1,3 Mio. €Frist 18.11.2026
- Multi-purpose high-throughput analytical TEMsStockholms universitetauf AnfrageFrist 19.11.2026
- Pyyhkäisyelektronimikroskoopin (SEM) tekninen päivitysTurun yliopistoauf AnfrageFrist 22.11.2026
- Suministro e instalación de un equipo de microscopía confocal de barrido láser en el Laboratorio de Microscopía Confocal del SIdI de la UAMRectorado de la Universidad Autónoma de Madrid348.000 €Frist 23.11.2026
- ElektronenstrahllithografieFreistaat Bayern, vertreten durch die Universität Erlangen-Nürnbergauf AnfrageFrist 23.11.2026
- Acquisition d’un microscope électronique à balayage avec canon à effet de champ équipé pour la microanalyse XUniversité de Toursauf AnfrageFrist 25.11.2026
- Acquisition d’un microscope électronique à balayage avec canon à effet de champ équipé pour la microanalyse XEOESRI / U_Tours - UNIVERSITE DE TOURSauf AnfrageFrist 25.11.2026
- in situ Rasterelektronenmikroskop (in situ SEM)Freistaat Bayern, vertreten durch die Universität Bayreuth1 Mio. €Frist 27.11.2026
- Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (fe-sem) y microanálisis rxGerencia de la Universidad de Castilla-La Mancha348.157 €Frist 30.11.2026
- 2026/2886 NTNU Campus Collection K906.02 Scanning Electron Microscope (SEM)STATSBYGGauf AnfrageFrist 04.12.2026
- Acquisition et maintenance d’une plateforme d’immunofluorescence multiplexe automatiséeEOESRI / Inserm / INSERM DR PA06 - INSERM Délégation Paris-IDF Estauf AnfrageFrist 14.12.2026
- AD/ZP/93/26 Delivery of components for the Iliad TEM microscope as part of the expansion of the Iliad TEM microscope to include electron tomography and 4D-STEM capabilities, along with a sample preparation system.Politechnika Poznańskaauf Anfragegeschlossen 03.11.2026
- EDS and EBSD attachment to a field-emission scanning electron microscopeKungliga Tekniska högskolan170.000 €geschlossen 02.11.2026
- Acquisition d’un microscope électronique à balayage pour le Laboratoire d’Etude des Microstructures et de Mécanique des Matériaux (LEM3) de l’université de LorraineUniversité de Lorraineauf Anfragegeschlossen 02.11.2026
- Acquisition d’un microscope électronique à balayage pour le LEM3 de l'université de LorraineUniversité de Lorraineauf Anfragegeschlossen 02.11.2026
- Acquisition d’un microscope électronique à balayage pour le Laboratoire d’Etude des Microstructures et de Mécanique des Matériaux (LEM3) de l’université de LorraineEOESRI / UL / DHA UL - Direction des achatsauf Anfragegeschlossen 02.11.2026
- Προμήθεια εξοπλισμού για το YE 1: Προμήθεια Ηλεκτρονικού μικροσκοπίου διέλευσης/σάρωσης υψηλής διακριτικής ικανότητας, με πηγή εκπομπής πεδίου (Field Emission Gun / FEG), ακολουθούμενο από σύστημα μικροανάλυσηςΕθνικό Κέντρο Έρευνας και Τεχνολογικής Ανάπτυξης (Ε.Κ.Ε.Τ.Α.)806.451,6 €geschlossen 02.11.2026
- ACQUISITION D’UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE - COMPACT POUR L’UNIVERSITE DE LORRAINEUniversité de Lorraine139.000 €geschlossen 22.10.2026
- ACQUISITION D’UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE - COMPACT POUR L’UNIVERSITE DE LORRAINEEOESRI / UL / DHA UL - Direction des achatsauf Anfragegeschlossen 22.10.2026
- Scanning Electron Microscope (SEM)Universiteit Maastricht1 Mio. €geschlossen 22.10.2026
- Suministro de Crio-Microscopio Electrónico de Transmisión de Última Generación, financiado con la ayuda EQC2025-009177-P, Agencia Estatal de investigación, Ministerio de Ciencia, innovación y Universidades (MICIU/AEI/10.13039/501100011033), cofinanciado por la Unión Europea (FEDER/UE)Fundación del Sector Público Estatal Centro Nacional de Investigaciones Oncológicas Carlos III992.000 €geschlossen 19.10.2026
- Modernisierung Steuerelektronik Elektronenmikroskop Institut für Physik 2026Julius-Maximilians-Universität Würzburg als staatliche Einrichtung in Vertretung des FS Bayernauf Anfragegeschlossen 16.10.2026
- Sandbox Transmission Electron Microscope (TEM) for Trinity College Dublin (TCD)Trinity College Dublin the University of Dublin_33681.300 €geschlossen 16.10.2026
CPV 38511000 (Elektronenmikroskope): öffentliche Ausschreibungen für REM, TEM & Hochleistungsmikroskopie in Forschung & Universitäten. Vergabedaten, Auftraggeber & Aufträge mit Bond.
Was umfasst der CPV-Code 38511000?
Der CPV-Code 38511000 – Elektronenmikroskope klassifiziert öffentliche Aufträge für die Beschaffung von Elektronenmikroskopen und zugehörigem Zubehör. Dazu zählen Rasterelektronenmikroskope (REM/SEM), Durchstrahlungs-Elektronenmikroskope (TEM), Raster-Transmissions-Elektronenmikroskope (STEM) sowie Fokussierte-Ionenstrahl-Systeme (FIB) und weitere hochauflösende Elektronenmikroskopiegeräte für wissenschaftliche und analytische Anwendungen. Typische Verwendungsbereiche sind die Materialwissenschaft, Werkstoffprüfung, Halbleiteranalytik, Biologie und medizinische Forschung.
CPV 38511000 ist in der öffentlichen Beschaffung vor allem für Forschungseinrichtungen, Hochschulen und Universitätsklinika relevant, die Großgeräte für die wissenschaftliche Infrastruktur beschaffen – häufig gefördert durch die Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) oder Förderprogramme des Bundes und der Länder.
CPV 38511000 gehört zur Kategorie innerhalb der Gruppe 385 – Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen in der Abteilung 38 – Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser). Die Klassifikation basiert auf der Europäischen Kommission (SIMAP) und der Verordnung (EG) Nr. 213/2008.
Ausschreibungen mit CPV 38511000 in Zahlen
Die folgenden Kennzahlen beruhen auf öffentlichen Vergabedaten aus Deutschland (2021–2026).
| Kennzahl | Wert |
|---|---|
| Ausschreibungen mit CPV 38511000 (direkt) | 63 |
| Inklusive Unterkategorien | 204 |
| Veröffentlichte Zuschläge | 18 |
| Dokumentiertes Auftragsvolumen | 22,22 Mio. € |
Entwicklung der Ausschreibungszahlen (jährlich):
| Jahr | Ausschreibungen |
|---|---|
| 2021 | 16 |
| 2022 | 11 |
| 2023 | 12 |
| 2024 | 12 |
| 2025 | 9 |
| 2026 | 3 (Jahresbeginn) |
Regionale Verteilung (nach Bundesland, Top 5):
| Bundesland | Ausschreibungen |
|---|---|
| Nordrhein-Westfalen | 20 |
| Baden-Württemberg | 11 |
| Bayern | 6 |
| Berlin | 5 |
| Sachsen | 5 |
Zu den aktivsten öffentlichen Auftraggebern zählen das Forschungszentrum Jülich GmbH, die Deutsche Forschungsgemeinschaft e.V., das Karlsruher Institut für Technologie, das Universitätsklinikum Freiburg sowie das Fritz-Haber-Institut der Max-Planck-Gesellschaft e.V..
Typische Untergruppen und Leistungen
| CPV-Code | Bezeichnung | Ausschreibungen 2021–2026 |
|---|---|---|
| 38511100 | Rasterelektronenmikroskope | 127 |
| 38511200 | Durchstrahlungs-Elektronenmikroskope | 14 |
Beispiele für Ausschreibungen mit CPV 38511000
- Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop für ein Forschungszentrum: Ein nationales Forschungszentrum beschafft ein Hochleistungs-REM mit FIB-Einheit und energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX) für die Materialcharakterisierung in der Nanowissenschaft – inklusive Installation, Inbetriebnahme und Schulung.
- Cryo-Transmissions-Elektronenmikroskop für die Strukturbiologie: Ein Universitätsklinikum schreibt die Lieferung und Installation eines Cryo-TEM für die Strukturaufklärung biologischer Makromoleküle aus – ein Großgerät der strukturbiologischen Spitzenforschung.
- REM mit EBSD-Einheit für die Metallforschung: Ein universitäres Institut für Werkstoffwissenschaften beschafft ein Rasterelektronenmikroskop mit Electron Backscatter Diffraction (EBSD) zur Texturanalyse metallischer Werkstoffe.
Aktuelle Ausschreibungen mit CPV 38511000 sind über TED (Tenders Electronic Daily) einsehbar.
Für wen ist CPV 38511000 relevant?
Öffentliche Auftraggeber
Typische Auftraggeber sind nationale Forschungszentren (Helmholtz, Fraunhofer, Max-Planck), Universitäten und Hochschulen, Universitätsklinika sowie bundesfinanzierte Forschungsfördereinrichtungen wie die DFG. Die Beschaffung erfolgt häufig im Rahmen von Großgeräteförderprogrammen und erfordert spezifische Nutzerkonzepte und standortbezogene Infrastrukturplanung.
Unternehmen und Bieter
Typische Bieter sind die internationalen Hersteller von Elektronenmikroskopen sowie deren autorisierte Händler und Vertriebsgesellschaften. Gefordert werden technische Spezifikationsnachweise, Referenzen vergleichbarer Gerätekonfigurationen, Nachweise über den Servicestandort in Deutschland sowie Schulungs- und Wartungskonzepte. Informationen zu Vergabevorschriften bietet das Bundesministerium für Wirtschaft und Klimaschutz (BMWK).
Wie hilft Bond bei CPV 38511000?
Tender Match – Ausschreibungen automatisch finden (CPV 38511000)
Mit tender.match erhalten Hersteller und Händler von Elektronenmikroskopen alle relevanten Ausschreibungen mit CPV 38511000 direkt in ihr Dashboard. BOND indexiert Ausschreibungen aus über 1.000 Vergabeportalen in der EU – von TED über nationale Plattformen bis hin zu regionalen Vergabestellen. Filter nach Region, Gerätetyp und Unternehmensprofil stellen sicher, dass keine Ausschreibung in der europäischen Wissenschaftsinfrastruktur übersehen wird.
Company Match – Die richtigen Partner und Zulieferer finden (CPV 38511000)
Für Angebote, die neben dem Gerät auch Installationsleistungen, spezifische Gebäudeanpassungen oder Zubehörkomponenten von Drittanbietern umfassen, bietet company.match Zugang zu einer EU-weiten Datenbank mit über 28 Mio. Unternehmen. Geeignete Partner für Systemintegration, Spezialmöblierung oder Abschirmtechnik lassen sich gezielt identifizieren.
Häufige Fragen zu CPV 38511000
Was bedeutet der CPV-Code 38511000?
CPV 38511000 steht für Elektronenmikroskope – also hochauflösende Laborgeräte zur Untersuchung von Materialien und biologischen Strukturen auf atomarer bis nanometergenauer Ebene, insbesondere Raster- und Durchstrahlungs-Elektronenmikroskope. Er gehört zur Abteilung 38 (Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte).
Welche Vergabevorschriften gelten für Ausschreibungen mit CPV 38511000?
Als Lieferauftrag gilt unterhalb der EU-Schwellenwerte die UVgO. Oberhalb des EU-Schwellenwerts für Liefer- und Dienstleistungsaufträge ist die VgV maßgeblich. Bei Elektronenmikroskopen handelt es sich häufig um Einzelbeschaffungen mit sehr spezifischen technischen Anforderungen, bei denen ein Verhandlungsverfahren mit Teilnahmewettbewerb in Betracht kommt.
Wie finde ich Ausschreibungen mit CPV 38511000?
Ausschreibungen mit CPV 38511000 werden auf TED für europaweite Verfahren veröffentlicht. BOND aggregiert automatisch alle relevanten Ausschreibungen aus über 1.000 Portalen und filtert sie nach Unternehmensprofil und Region.
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